壓力溫度對紅外線氣體分析儀的影響有什么？

    紅外線氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測器的電信號。這樣，就可間接測量出待分析組分的濃度。

      紅外線氣體分析儀檢測過程需要在恒定的溫度下進(jìn)行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅外光源的穩(wěn)定，影響紅外輻射的強(qiáng)度，影響測量氣室連續(xù)流動的氣樣密度，還將直接影響檢測器的正常工作。如果溫度大大超過正常狀態(tài)，檢測器的輸出阻抗下降，導(dǎo)致儀器不能正常工作，甚至損壞檢測器。 
      紅外氣體分析儀內(nèi)部一般有問孔裝置及超溫保護(hù)電路，即使如此，有的儀器示值特別是微量分析儀器，亦可觀察出環(huán)境溫度變化對檢測的影響，在夏季環(huán)境溫度較高時(shí)尤為明顯。在這種情況下，需改變環(huán)境溫度，設(shè)置空調(diào)是一種解決辦法。 
     大氣壓力即使在同一個(gè)地區(qū)、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時(shí)，變化的幅度較大。大氣壓力的這種變化，對氣樣放空流速有直接影響。經(jīng)測量氣室后直接放空的氣樣，會隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化，從而造成附加誤差。